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XRD冷热台适配布鲁克D8 ADVANCE X-射线衍射仪
XRD液氮原位冷热台是一款用于X-射线衍射实验的装置,可在 -190~600℃ 的温度范围内进行控温,实现样品在气密/真空环境下的原位变温测试,研究样品在不同条件下的晶体结构、热稳定性和相变温度等性质。帮助科研人员更好地了解材料的特性,为材料的设计和应用提供更多的信息。可在现有各种X-射线衍射仪上定制固定支架进行结构适配。
2025-09-10
包裹体测试分析系统
包裹体测试分析系统由地质冷热台与光学显微镜配套组成; 地质冷热台支持与各类显微镜(Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等)、光谱仪(红外光谱仪、拉曼光谱仪、荧光光谱仪等)等光学仪器设备联用,进行变温光学观察及测试。可实现不开盖情况下对样品观测区域进行调节。 地质冷热台可在-190℃~600℃的温度范围内进行控温,实现样品在开放式/气密/真空环境下,反/透射的原位变温光学观察及相关测试。
2025-08-26
地质冷热台搭配蔡司Axioscope 5光学显微镜
地质冷热台支持与各类显微镜(Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等)、光谱仪(红外光谱仪、拉曼光谱仪、荧光光谱仪等)等光学仪器设备联用,进行变温光学观察及测试。可实现不开盖情况下对样品观测区域进行调节。 地质冷热台可在-190℃~600℃的温度范围内进行控温,实现样品在开放式/气密/真空环境下,反/透射的原位变温光学观察及相关测试。
2025-08-26
地质冷热台搭配蔡司Axiolab5光学显微镜
地质冷热台支持与各类显微镜(Leica、Olympus、Nikon、Zeiss等)、光谱仪(红外光谱仪、拉曼光谱仪、荧光光谱仪等)等光学仪器设备联用,进行变温光学观察及测试。可实现不开盖情况下对样品观测区域进行调节。 地质冷热台可在-190℃~600℃的温度范围内进行控温,实现样品在开放式/气密/真空环境下,反/透射的原位变温光学观察及相关测试。
2025-08-25
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